晶片驗收測試
中 文 晶片驗收測試
英 文 wafer acceptance test{=WAT}
出 處 電子工程
相關詞匯
| 中文詞彙 | 英文翻譯 | 出處/學術領域 |
|---|---|---|
| 晶片驗收測試 | wafer acceptance test{=WAT} | 【電子工程】 |
| 四分之一波（晶）片 | quarter wave plate | 【電子計算機名詞】 |
| 晶格吸收 | lattice absorption | 【物理學名詞】 |
| 晶體接收機 | crystal receiver | 【物理學名詞】 |
| 四分之一光波〔晶〕片 | quarter undulation plate | 【地球科學名詞】 |
| 晶體接收器 | crystal receiver | 【物理化學儀器設備名詞】 |
| 半波[晶]片 | half-wave plate | 【地球科學名詞-天文】 |
| [晶]片；糯米紙；晶圓 | wafer | 【化學名詞-化學術語】 |
| 晶體接收機 | crystal receiver | 【海事】 |
| 半波[晶]片 | half-wave plate | 【天文學名詞】 |
| 四分之一波[晶]片 | quarter-wave plate | 【天文學名詞】 |
| 驗收測試 | acceptance testing | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 驗收測試 | acceptance test | 【資訊與通信術語辭典】 |
| 驗收測試條件 | acceptance test conditions{=ATC} | 【電子工程】 |
| 交貨檢驗；驗收測試 | acceptance test | 【電子工程】 |
| 工廠驗收測試 | factory acceptance test | 【藥學】 |
| 自動列車控制動態驗收測試 | Automatic Train Control Dynamic Acceptance Tests | 【電子計算機名詞】 |
| 驗收測試 | acceptance testing | 【電子計算機名詞】 |
| 驗收測試 | acceptance test{=AT} | 【電子計算機名詞】 |
| 驗收測試程序 | acceptance test procedure{=ATP} | 【電子計算機名詞】 |